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智力測驗目的:
①早期發(fā)現、早期診斷發(fā)育上有問題的兒童,以便早期矯治;
②評價兒童智力低下的程度;
③對一些神經系統、內分泌系統疾患是否伴有心理發(fā)育異常提供依據;
④在治療疾病或智力發(fā)育干預過程中進行效果評價;
⑤為科研和流行病學調查提供手段。智力測驗通常按測驗性質分為篩查性測驗與診斷性測驗。
(1)篩查性測驗丹佛發(fā)育篩查試驗:適用于早期發(fā)現2個月~6歲兒童智力發(fā)育的問題。
繪人測驗:適用于對4~12歲兒童進行一般智力評價。
圖片詞匯測驗:適用于對3~9歲兒童少年詞匯能力的評價,并可預測智力水平。
(2)診斷性測驗貝利嬰幼兒發(fā)育測驗:適用于對2~30個月小兒智力水平的評價,確定小兒智力發(fā)育偏離正常水平的程度。
蓋塞爾發(fā)育診斷測驗:適用于評價和診斷0~3歲兒童神經系統發(fā)育的完善情況及功能成熟程度。
斯坦福-比奈測驗:適用于評價2~18歲兒童青少年的一般智力水平及診斷智力低下。
韋氏學前兒童智力測驗:WPPSI適用于4~6歲學齡期兒童,可用于測查一般智力水平、言語智力水平、操作智力水平和各種具體能力(如知識、計算、記憶及抽象思維等)。
韋氏兒童智力測驗:WISC適用于6~16歲兒童,是評價智力水平和診斷智力低下的重要方法。